走査型電子顕微鏡（SEM-EDS）受託業務のご案内

  SEM（走査型電子顕微鏡）は、電子線を絞って電子ビームとして試料表面上を走査させて照射し、試料表面から放出される二次電子や反射電子と検出することで、試料表面の形状を高倍率で観察することができます。

  また、EDS装置は二次電子や反射電子と同時に放出される特性X線を利用して元素分析（B（ボロン）～ U（ウラン）の分析が可能）を行うことができ、特に軽元素の分析に威力が発揮されます。

  さらに、SEM-EDS測定では、表面の凹凸状態や組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察も実施可能です。

  当事業団では、SEM－EDS装置の受託業務を下記料金でご提案させて頂きます。

業務内容	分析料金
SEM観察（SEM画像１枚：倍率は20～10,000倍）	15,000円
SEM-EDS測定（SEM画像１枚　EDS分析１地点）	20,000円
SEM画像　1枚追加	10,000円
EDS分析　１地点追加	10,000円
EDSマッピング測定(1画像)	30,000円

 

  

 

SEM－EDS測定による観測例

  

  

〇EDS分析（元素分析）の例

〇EDSマッピング分析の例

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お問合せ

（一財）三重県環境保全事業団　科学分析部第二分析課

電話：０５９-２４５-７５０８　　FAX：０５９-２４５-７５１６ 

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